Zeitschriftenartikel:
R. Orio, H. Ceric, S. Selberherr:
"Physically based Models of Electromigration: From Black´s Equation to Modern TCAD Models";
Microelectronics Reliability (eingeladen),
50
(2010),
6;
S. 775
- 789.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2010.01.007
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2010/JB2010_Orio_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.