Zeitschriftenartikel:
J. Ryan, P. Lenahan, T. Grasser, H. Enichlmair:
"Observations of Negative Bias Temperature Instability Defect Generation via On The Fly Electron Spin Resonance";
Applied Physics Letters,
96
(2010),
22;
S. 223509-1
- 223509-3.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1063/1.3428783
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2010/JB2010_Grasser_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.