Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
M. Melik-Merkumians, A. Zoitl, T Moser:
"Ontology-based Fault Diagnosis for Industrial Control Applications";
Vortrag: IEEE International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA),
Bilbao, Spanien;
13.09.2010
- 16.09.2010; in: "Proceedings IEEE Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA 2010)",
(2010),
ISBN: 978-1-4244-6849-2;
4 S.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/ETFA.2010.5641192
Elektronische Version der Publikation:
https://publik.tuwien.ac.at/files/publik_188249.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.