Zeitschriftenartikel:
T. Grasser, H. Reisinger, P.-J. Wagner, B. Kaczer:
"Time-Dependent Defect Spectroscopy for Characterization of Border Traps in Metal-Oxide-Semiconductor Transistors";
Physical Review B,
82
(2010),
S. 245318-1
- 245318-10.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.82.245318
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2010/JB2010_Grasser_3.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.