Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
T. Grasser, B. Kaczer, W. Gös, H. Reisinger, T. Aichinger, Ph. Hehenberger, P.-J. Wagner, F. Schanovsky, J. Franco, Ph. J. Roussel, M. Nelhiebel:
"Recent Advances in Understanding the Bias Temperature Instability";
Vortrag: IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM),
San Francisco, CA, USA (eingeladen);
06.12.2010
- 08.12.2010; in: "Proceedings of the IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)",
(2010),
S. 82
- 85.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IEDM.2010.5703295
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2010/CP2010_Grasser_2.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.