Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
J. Franco, B. Kaczer, G. Eneman, J. Mitard, A. Stesmans, V. Afanas´Ev, T. Kauerauf, Ph. J. Roussel, M. Toledano-Luque, M. Cho, R. Degraeve, T. Grasser, L. Ragnarsson, L. Witters, J. Tseng, S. Takeoka, W. Wang, T. Y. Hoffmann, G. Groeseneken:
"6Å EOT Si45Ge55 pMOSFET with Optimized Reliability (VDD=1V): Meeting the NBTI Lifetime Target at Ultra-Thin EOT";
Vortrag: IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM),
San Francisco, CA, USA;
06.12.2010
- 08.12.2010; in: "Proceedings of the IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)",
(2010),
S. 70
- 73.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IEDM.2010.5703292
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2010/FRANCO10B.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.