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Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):

J. Crespo Casanova, H.P. Degischer, K. Track, E. Maire, C. Landron, B. Harrer:
"Rissfortschritt in Sphärogussproben bei in-situ Zugversuchen im Synchrotron-Strah";
Vortrag: DGM Werkstoffprüfungtagung 2010, Neu-Ulm; 02.12.2010 - 03.12.2010; in: "DGM Tagung Werkstoffprüfung 2010", (2010), ISBN: 9783514007789; S. 191 - 195.



Kurzfassung deutsch:
Computertomografie ist eine zerstörungsfreie Prüfmethode, die mittels Röntgenstrahlung Inhomogenitäten in Werkstoffen räumlich abbildet. Graphitteilchen in Sphärogussgrundmatrix sowie Lunker geben starken Absorptionskontrast. Die Durchstrahlbarkeit von Eisenbasiswerkstoffen mit Röntgenmikrotomografie (μXCT mit (7 μm)³/Voxel) erlaubt eine gute Ortsauflösung (> 15 μm) in Proben mit Durchmessern < 5 mm. Mikroporen (< 100 μm)sind mittels μXCT von Graphitteilchen kaum unterscheidbar.
Dank der besonderen Brillianz der Synchrotron-Röntgenstrahlung (SCT mit Hochenergiestrahl ID15/ESRF, (1,6 μm)³/Voxel) wird an Proben mit Durchmessern < 1,5 mm die Ortsauflösung auf > 5 μm erhöht. Die Graphitteilchen und Mikroporen können über ihre Form diskriminiert werden. Eine SCT-Aufnahme benötigt weniger als 10s, sodass in-situ
Zugversuche beobachtbar sind.
Die Risseinleitung bis zum Bruchvorgang wird beobachtet und der lokalen Verteilung der Graphitteilchen und Mikroporen zuzugeordnet. Flachzugproben aus EN-GJS-700 mit quadratischem Querschnitt in der Messlänge und verschiedenen Graphitverteilungen werden zu Beginn des Zugversuches und in regelmäßigen Abständen während der Verformung an
ID15A tomografiert. Die SCT Tomografien werden mit sub-Mikrometer-CT-Aufnahmen (sμXCT mit (0,75 μm)³/Voxel) nach dem Bruch korreliert. Als Befund wird die Wirkung der Graphitanhäufungen sowie der Mikroporen auf den Rissfortschritt während der Zugbelastung von Sphäroguss gezeigt.


Elektronische Version der Publikation:
http://publik.tuwien.ac.at/files/PubDat_191264.pdf


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.