Zeitschriftenartikel:
H. Ceric, S. Selberherr:
"Electromigration in Submicron Interconnect Features of Integrated Circuits";
Materials Science and Engineering R-Reports,
71
(2011),
5-6;
S. 53
- 86.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.mser.2010.09.001
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2010/Ceric_Selberherr.PDF
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.