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Zeitschriftenartikel:

I. Starkov, S. E. Tyaginov, H. Enichlmair, J. Cervenka, C. Jungemann, S. Carniello, J.M. Park, H. Ceric, T. Grasser:
"Hot-Carrier Degradation Caused Interface State Profile-Simulation versus Experiment";
Journal of Vacuum Science & Technology B, 29 (2011), S. 01AB09-1 - 01AB09-8.



"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1116/1.3534021

Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2010/JB2011_Starkov_2.pdf


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.