Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
Ph. Hehenberger, H. Reisinger, T. Grasser:
"Recovery of Negative and Positive Bias Temperature Stress in pMOSFETs";
Vortrag: IEEE International Integrated Reliability Workshop,
California;
17.10.2010
- 21.10.2010; in: "Final Report of IEEE International Integrated Reliability Workshop",
(2010),
S. 8
- 11.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IIRW.2010.5706473
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2010/CP2010_Hehenberger_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.