Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
M. F. Bukhori, T. Grasser, B. Kaczer, H. Reisinger, A. Asenov:
"'Atomistic' Simulation of RTS Amplitudes Due to Single and Multiple Charged Defect States and Their Interactions";
Vortrag: IEEE International Integrated Reliability Workshop,
California;
17.10.2010
- 21.10.2010; in: "Final Report of IEEE International Integrated Reliability Workshop",
(2010),
S. 76
- 79.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IIRW.2010.5706490
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2010/CP2010_Grasser_4.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.