Buchbeiträge:
S. E. Tyaginov, I. Starkov, H. Enichlmair, J.M. Park, C. Jungemann, T. Grasser:
"Physics-Based Hot-Carrier Degradation Models";
in: "Silicon Nitride, Silicon Dioxide, and Emerging Dielectrics 11",
R. Sah (Hrg.);
ECS Transactions,
2011,
ISBN: 978-1-56677-865-7,
S. 321
- 352.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1149/1.3572292
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2010/BC2011_Tyaginov_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.