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Zeitschriftenartikel:

M. Toledano-Luque, B. Kaczer, Ph. J. Roussel, M. Cho, T. Grasser, G. Groeseneken:
"Temperature Dependence of the Emission and Capture Times of SiON Individual Traps after Positive Bias Temperature Stress";
Journal of Vacuum Science & Technology B, 29 (2011), S. 01AA04-1 - 01AA04-5.



"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1116/1.3532947

Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2010/JB2011_Grasser_2.pdf


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.