Zeitschriftenartikel:
M. Toledano-Luque, B. Kaczer, Ph. J. Roussel, M. Cho, T. Grasser, G. Groeseneken:
"Temperature Dependence of the Emission and Capture Times of SiON Individual Traps after Positive Bias Temperature Stress";
Journal of Vacuum Science & Technology B,
29
(2011),
S. 01AA04-1
- 01AA04-5.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1116/1.3532947
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2010/JB2011_Grasser_2.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.