Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
J. Franco, B. Kaczer, G. Eneman, Ph. J. Roussel, M. Cho, J. Mitard, L. Witters, T. Y. Hoffmann, G. Groeseneken, F. Crupi, T. Grasser:
"On the Recoverable and Permanent Components of Hot Carrier and NBTI in Si pMOSFETs and their Implications in Si0.45Ge0.55 pMOSFETs";
Vortrag: International Reliability Physics Symposium (IRPS),
Monterey;
12.04.2011
- 14.04.2011; in: "Proceedings of the International Reliability Physics Symposium (IRPS)",
(2011),
6 S.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IRPS.2011.5784545
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2010/CP2011_Grasser_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.