Zeitschriftenartikel:
J. Lorenz, E. Bär, T. Clees, P. Evanschitzky, R. Jancke, C. Kampen, U. Paschen, C. Salzig, S. Selberherr:
"Hierarchical Simulation of Process Variations and their Impact on Circuits and Systems: Results";
IEEE Transactions on Electron Devices (eingeladen),
58
(2011),
8;
S. 2227
- 2234.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/TED.2011.2150226
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2011/JB_Selberherr_3.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.