Zeitschriftenartikel:
T. Grasser:
"Stochastic Charge Trapping in Oxides: From Random Telegraph Noise to Bias Temperature Instabilities";
Microelectronics Reliability (eingeladen),
52
(2012),
1;
S. 39
- 70.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2011.09.002
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2011/JB2011_Grasser_5.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.