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Zeitschriftenartikel:

T. Grasser:
"Stochastic Charge Trapping in Oxides: From Random Telegraph Noise to Bias Temperature Instabilities";
Microelectronics Reliability (eingeladen), 52 (2012), 1; S. 39 - 70.



"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2011.09.002

Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2011/JB2011_Grasser_5.pdf


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.