Zeitschriftenartikel:
I. Starkov, S. E. Tyaginov, H. Enichlmair, J.M. Park, H. Ceric, T. Grasser:
"Accurate Extraction of MOSFET Unstressed Interface State Spatial Distribution from Charge Pumping Measurements";
Solid State Phenomena,
178-179
(2011),
S. 267
- 272.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/SSP.178-179.267
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2011/JB2011_Starkov_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.