Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
I. Starkov, H. Ceric, S. E. Tyaginov, T. Grasser:
"Analysis of Worst-Case Hot-Carrier Conditions for n-type MOSFET";
Vortrag: 7th Conference on PhD Research in Microelectronics and Electronics (PRIME),
Madonna di Campiglio, Italy;
03.07.2011
- 07.07.2011; in: "Proceedings of the 7th Conference on PhD Research in Microelectronics and Electronics",
(2011),
ISBN: 978-1-4244-9136-0;
4 S.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/PRIME.2011.5966251
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2011/CP2011_Starkov_3.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.