Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
T. Grasser, P.-J. Wagner, H. Reisinger, T. Aichinger, G. Pobegen, M. Nelhiebel, B. Kaczer:
"Analytic Modeling of the Bias Temperature Instability Using Capture/Emission Time Maps";
Vortrag: IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM),
Washington DC, USA;
05.12.2011
- 07.12.2011; in: "Proceedings of the IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)",
(2011),
ISBN: 978-1-4577-0505-2;
4 S.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IEDM.2011.6131624
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2011/CP2011_Grasser_2.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.