Dissertationen (eigene und begutachtete):
W. Gös:
"Hole Trapping and the Negative Bias Temperature Instability";
Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Grasser, D. Süss;
Institut für Mikroelektronik,
2011;
Rigorosum: 22.12.2012.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.34726/hss.2011.25057
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/phd/goes/
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.