Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
J. Crespo Casanova, H.P. Degischer, K. Track, E. Maire, C. Landron, B. Harrer:
"Rissfortschritt in Sphäroguss mit unterschiedlicher Graphitverteilung bei in-situ Zugversuchen im Synchrotron-Strahl";
Vortrag: 45. Metallographie Tagung 2011,
Karlsruhe;
13.09.2011
- 16.09.2011; in: "Sonderbände der Praktischen Metallografie",
(2011),
ISBN: 978-3-88355-387-0;
S. 147
- 152.
Kurzfassung deutsch:
Dank der besonderen Brillianz der Synchrotron-Röntgenstrahlung (SCT, mit Hochenergiestrahl ID15/ESRF, (1,6μm)³/Voxel) wird an Proben mit Durchmessern <1,5mm eine Ortsauflösung >5μm erzielt. Eine SCT-Aufnahme benötigt weniger als 10s, sodass in-situ Zugversuche beobachtbar sind. Dabei wird auch die lokale Verteilung der Graphitteilchen und der Mikroporen ermittelt.
Um den Risspfad nachzuvollziehen, wurden der Bruchbereich der gebrochenen in-situ Zugproben (1x1mm²) mit einer Submikrofokusröhre nanotom, sμXCT) mit 145kV mit einer Voxelgröße von (0,75μm)³ tomografiert, damit man die Synchrotron-Daten der nanotom-fraktografie zuordnen kann. Damit kann man Teilchen >5μm in Proben <1,5mm Durchmesser gut sehen.
Durch die Anpassung des SCT-Datensatzes vor dem Bruch an den sμXCT-Datensatz der gebrochenen Zugproben wird die Wirkung der Graphitanhäufungen sowie der Mikroporen auf den Rissfortschritt von der Risseinleitung bis zum Bruchvorgang während der Zugbelastung gezeigt.
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.