Zeitschriftenartikel:
M. Toledano-Luque, B. Kaczer, E. Simoen, Ph. J. Roussel, A. Veloso, T. Grasser, G. Groeseneken:
"Temperature and Voltage Dependences of the Capture and Emission Times of Individual Traps in High-k Dielectrics";
Microelectronic Engineering,
88
(2011),
S. 1243
- 1246.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.mee.2011.03.097
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2011/JB2011_Grasser_6.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.