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Zeitschriftenartikel:

J. Kuzmik, S. Vitanov, C. Dua, J. Carlin, C. Ostermaier, A. Alexewicz, G. Strasser, D. Pogany, E. Gornik, N. Grandjean, S. Delage, V. Palankovski:
"Buffer-Related Degradation Aspects of Single and Double-Heterostructure Quantum Well InAlN/GaN High-Electron-Mobility Transistors";
Japanese Journal of Applied Physics, 51 (2012), S. 054102-1 - 054102-5.



"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1143/JJAP.51.054102

Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2011/JB2012_Palankovski_1.pdf


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universitšt Wien.