Zeitschriftenartikel:
H. Ceric, R. Orio, S. Selberherr:
"Interconnect Reliability Dependence on Fast Diffusivity Paths";
Microelectronics Reliability (eingeladen),
52
(2012),
8;
S. 1532
- 1538.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2011.09.035
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2012/JB2012_Ceric_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.