Zeitschriftenartikel:
J. Franco, S. Graziano, B. Kaczer, F. Crupi, L. Ragnarsson, T. Grasser, G. Groeseneken:
"BTI Reliability of Ultra-Thin EOT MOSFETs for Sub-Threshold Logic";
Microelectronics Reliability,
52
(2012),
S. 1932
- 1935.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2012.06.058
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2012/JB2012_Grasser_3.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.