Zeitschriftenartikel:
J. Franco, B. Kaczer, Ph. J. Roussel, J. Mitard, M. Cho, L. Witters, T. Grasser, G. Groeseneken:
"SiGe Channel Technology: Superior Reliability Toward Ultrathin EOT Devices-Part I: NBTI";
IEEE Transactions on Electron Devices,
60
(2013),
1;
S. 396
- 404.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/TED.2012.2225625
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2012/JB2012_Grasser_5.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.