Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
T. Grasser, H. Reisinger, K. Rott, M. Toledano-Luque, B. Kaczer:
"On the Microscopic Origin of the Frequency Dependence of Hole Trapping in pMOSFETs";
Vortrag: IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM),
San Francisco, CA, USA;
10.12.2012
- 12.12.2012; in: "Proceedings of the IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)",
(2012),
S. 470
- 473.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IEDM.2012.6479076
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2012/CP2012_Grasser_2.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.