Dissertationen (eigene und begutachtete):
O. Triebl:
"Reliability Issues in High-Voltage Semiconductor Devices";
Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Grasser, M. Gröschl;
Institut für Mikroelektronik,
2012;
Rigorosum: 24.10.2012.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.34726/hss.2012.27576
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/phd/triebl/
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.