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Buchbeiträge:

S. Ahmed, M. Nedjalkov, D. Vasileska:
"Comparative Study of Various Self-Consistent Event Biasing Schemes for Monte Carlo Simulations of Nanoscale MOSFETs";
in: "Theory and Applications of Monte Carlo Simulations", V. Chan (Hrg.); Intech Open Access Publisher, 2013, ISBN: 978-953-51-1012-5, S. 109 - 133.



"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.5772/53113

Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2012/BC2013_Nedjalkov_1.pdf


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.