Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
T. Grasser, B. Kaczer, H. Reisinger, P.-J. Wagner, M. Toledano-Luque:
"Modeling of the bias temperature instability under dynamic stress and recovery conditions";
Vortrag: International Conference on Solid State and Integrated Circuit Technology (ICSICT),
Xi'an, China (eingeladen);
29.10.2012
- 01.11.2012; in: "11th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT)",
(2012),
ISBN: 978-1-4673-2474-8;
S. 1
- 4.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/ICSICT.2012.6466737
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2012/CP2012_Grasser_4.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.