Zeitschriftenartikel:
B. Kaczer, M. Toledano-Luque, W. Gös, T. Grasser, G. Groeseneken:
"Gate Current Random Telegraph Noise and Single Defect Conduction";
Microelectronic Engineering,
109
(2013),
S. 123
- 125.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.mee.2013.03.110
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2012/JB2013_Goes_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.