Bücher und Buch-Herausgaben:
T. Grasser (Hrg.):
"Bias Temperature Instability for Devices and Circuits";
Springer Science+Business Media New York,
2013,
ISBN: 978-1-4614-7908-6;
810 S.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-7909-3
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/index.php?id=bias_temperature_instability
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.