Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
J. Franco, B. Kaczer, Ph. J. Roussel, J. Mitard, S. Sioncke, L. Witters, H. Mertens, T. Grasser, G. Groeseneken:
"Understanding the Suppressed Charge Trapping in Relaxed- and Strained Ge/SiO2/HfO2 pMOSFETs and Implications for the Screening of Alternative High-Mobility Substrate/Dielectric CMOS Gate Stacks";
Vortrag: IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM),
Washington, DC, USA;
09.12.2013
- 11.12.2013; in: "Proceedings of the IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)",
(2013),
S. 397
- 400.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IEDM.2013.6724634
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2013/CP2013_Grasser_3.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.