Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
T. Grasser, K. Rott, H. Reisinger, M. Waltl, P.-J. Wagner, F. Schanovsky, W. Gös, G. Pobegen, B. Kaczer:
"Hydrogen-Related Volatile Defects as the Possible Cause for the Recoverable Component of NBTI";
Vortrag: IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM),
Washington, DC, USA;
09.12.2013
- 11.12.2013; in: "Proceedings of the IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)",
(2013),
S. 409
- 412.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IEDM.2013.6724637
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2013/CP2013_Grasser_2.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.