Zeitschriftenartikel:
H. Mahmoudi, T. Windbacher, V. Sverdlov, S. Selberherr:
"Reliability Analysis and Comparison of Implication and Reprogrammable Logic Gates in Magnetic Tunnel Junction Logic Circuits";
IEEE Transactions on Magnetics,
49
(2013),
12;
S. 5620
- 5628.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/TMAG.2013.2278683
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2013/JB2013_Mahmoudi_2.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.