Zeitschriftenartikel:
Yu. Illarionov, M. Bina, S. E. Tyaginov, T. Grasser:
"An Analytical Approach for the Determination of the Lateral Trap Position in Ultra-Scaled MOSFETs";
Japanese Journal of Applied Physics,
53
(2014),
S. 04EC22-1
- 04EC22-4.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.7567/JJAP.53.04EC22
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2013/JB2014_Illarionov_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.