Dissertationen (eigene und begutachtete):
M. Bina:
"Charge Transport Models for Reliability Engineering of Semiconductor Devices";
Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Grasser, C. Jungemann;
Institut für Mikroelektronik,
2014;
Rigorosum: 25.03.2014.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.34726/hss.2014.24463
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/phd/bina/
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.