Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
T. Grasser, G. Rzepa, M. Waltl, W. Gös, K. Rott, G.A. Rott, H. Reisinger, J. Franco, B. Kaczer:
"Characterization and Modeling of Charge Trapping: From Single Defects to Devices";
Vortrag: IEEE International Conference on IC Design and Technology (ICICDT),
Austin, TX, USA (eingeladen);
28.05.2014
- 30.05.2014; in: "Proceedings of IEEE International Conference on IC Design and Technology",
(2014),
ISBN: 978-1-4799-2153-9;
S. 1
- 4.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/ICICDT.2014.6838620
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2018/CP2014_Grasser_02.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.