Zeitschriftenartikel:
M. Tapajna, N. Killat, V. Palankovski, D. Gregusova, K. Cico, J. Carlin, N. Grandjean, M. Kuball, J. Kuzmik:
"Hot-Electron-Related Degradation in InAlN/GaN High-Electron-Mobility Transistors";
IEEE Transactions on Electron Devices,
61
(2014),
8;
S. 2793
- 2801.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/TED.2014.2332235
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2014/JB2014_Palankovski_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.