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Zeitschriftenartikel:

M. Tapajna, N. Killat, V. Palankovski, D. Gregusova, K. Cico, J. Carlin, N. Grandjean, M. Kuball, J. Kuzmik:
"Hot-Electron-Related Degradation in InAlN/GaN High-Electron-Mobility Transistors";
IEEE Transactions on Electron Devices, 61 (2014), 8; S. 2793 - 2801.



"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/TED.2014.2332235

Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2014/JB2014_Palankovski_1.pdf


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.