Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
W. H. Zisser, H. Ceric, J. Weinbub, S. Selberherr:
"Electromigration Induced Resistance Increase in Open TSVs";
Poster: International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD),
Yokohama, Japan;
09.09.2014
- 11.09.2014; in: "Proceedings of the International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)",
(2014),
ISBN: 978-1-4799-5285-4;
S. 249
- 252.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/SISPAD.2014.6931610
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2014/CP2014_Zisser_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.