Zeitschriftenartikel:
H. Ceric, R. Orio, W. H. Zisser, S. Selberherr:
"Microstructural Impact on Electromigration: A TCAD Study";
Facta universitatis - series: Electronics and Energetics,
27
(2014),
1;
S. 1
- 11.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.2298/FUEE1401001C
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2014/JB2015_Ceric_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.