T. Grasser (Hrg.):
"Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices";
Springer International Publishing, 2014, ISBN: 978-3-319-08993-5; 517 S.
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-08994-2Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/index.php?id=hot_carrier_degradation