Buchbeiträge:
W. Gös, F. Schanovsky, T. Grasser:
"Advanced Modeling of Oxide Defects";
in: "Bias Temperature Instability for Devices and Circuits",
T. Grasser (Hrg.);
Springer New York,
2013,
ISBN: 978-1-4614-7909-3,
S. 409
- 446.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-7909-3_16
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2014/BC2014_Goes_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.