Zeitschriftenartikel:
J. Franco, B. Kaczer, M. Toledano-Luque, Ph. J. Roussel, M. Choa, T. Kauerauf, J. Mitard, G. Eneman, L. Witters, T. Grasser, G. Groeseneken:
"Superior Reliability of High Mobility (Si)Ge Channel pMOSFETs";
Microelectronic Engineering,
109
(2013),
S. 250
- 256.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.mee.2013.03.001
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2014/JB2014_Grasser_6.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.