Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
T. Grasser, W. Gös, Y. Wimmer, F. Schanovsky, G. Rzepa, M. Waltl, K. Rott, H. Reisinger, V. Afanas´Ev, A. Stesmans, A. El-Sayed, A. Shluger:
"On the Microscopic Structure of Hole Traps in pMOSFETs";
Vortrag: IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM),
San Francisco, CA, USA;
15.12.2014
- 17.12.2014; in: "Proceedings of the IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)",
(2014),
ISBN: 978-1-4799-8001-7;
S. 530
- 533.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IEDM.2014.7047093
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2014/CP2014_Grasser_3.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.