Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
Yu. Illarionov, M. Waltl, A. Smith, S. Vaziri, M. Ostling, M. Lemme, T. Grasser:
"Impact of Hot Carrier Stress on the Defect Density and Mobility in Double-Gated Graphene Field-Effect Transistors";
Vortrag: Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS),
Bologna, Italy;
26.01.2015
- 28.01.2015; in: "Proceedings of the Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS)",
Ieee Xplore,
(2015),
ISBN: 978-1-4799-6910-4;
S. 81
- 84.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/ULIS.2015.7063778
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2014/CP2015_Illarionov_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.