Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
Y. Wimmer, S. E. Tyaginov, F. Rudolf, K. Rupp, M. Bina, H. Enichlmair, J.M. Park, R. Minixhofer, H. Ceric, T. Grasser:
"Physical Modeling of Hot-Carrier Degradation in nLDMOS Transistors";
Vortrag: IEEE International Reliability Workshop (IIRW),
South Lake Tahoe, CA, USA;
12.10.2014
- 16.10.2014; in: "Proceedings of the IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW)",
IEEE,
(2014),
ISBN: 978-1-4799-7308-8;
S. 58
- 62.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IIRW.2014.7049511
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2014/CP2014_Wimmer_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.