Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
B. Kaczer, J. Franco, M. Cho, T. Grasser, P. Roussel, S. E. Tyaginov, M. Bina, Y. Wimmer, L. M. Procel, L. Trojman, F. Crupi, G. Pitner, V. Putcha, P. Weckx, E. Bury, Z. Ji, A. De Keersgieter, T. Chiarella, N. Horiguchi, G Groeseneken, A. Thean:
"Origins and Implications of Increased Channel Hot Carrier Variability in nFinFETs";
Vortrag: International Reliability Physics Symposium (IRPS),
Monterey, CA, USA;
19.04.2015
- 23.04.2015; in: "Proceedings of the International Reliability Physics Symposium (IRPS)",
(2015),
6 S.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IRPS.2015.7112706
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2014/CP2015_Grasser_4.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.