Zeitschriftenartikel:
S. E. Tyaginov, M. Bina, J. Franco, Y. Wimmer, B. Kaczer, T. Grasser:
"On the Importance of Electron-Electron Scattering for Hot-Carrier Degradation";
Japanese Journal of Applied Physics,
54
(2015),
S. 1
- 6.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.7567/JJAP.54.04DC18
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2014/JB2015_Tyaginov_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.